NOVASCAN相控陣超聲檢測(cè)儀

提供全聚焦功能的全新相控陣探傷儀

Novascan是一款功能齊全的相控陣檢測(cè)工具，除具備相控陣功能、獨(dú)立兩通道TOFD檢測(cè)功能外，還支持全聚焦成像及全矩陣數(shù)據(jù)采集，成像點(diǎn)數(shù)1024*1024，極大的提升成像清晰度，更清晰地顯示微小缺陷。

雙重角色

Novascan設(shè)備提供FPGA直接方式，兼具板卡功能，可向用戶輸送底層數(shù)據(jù)，更加方便研究院、高校等用戶進(jìn)行自定義二次開(kāi)發(fā).

強(qiáng)大的掃查工藝模擬功能

具備全新的掃查計(jì)劃流程，可實(shí)現(xiàn)3D聚焦法則模擬、多組同時(shí)模擬等功能，且大大簡(jiǎn)化了用戶設(shè)置界面，能夠在最短的時(shí)間內(nèi)完成工藝仿真和校準(zhǔn)等必要步驟。

更全面的應(yīng)用領(lǐng)域

設(shè)備配備了二維編碼接口，能夠?qū)崿F(xiàn)高速二維掃查；支持面陣、雙面陣掃查，可用于奧氏體不銹鋼試件檢測(cè)。支持32個(gè)組同時(shí)檢測(cè)，同屏顯示8個(gè)組，更適合進(jìn)行復(fù)雜的檢測(cè)場(chǎng)景。

3D掃描圖	多組模擬

 NOVASCAN相控陣超聲檢測(cè)儀性能指標(biāo)